场发射扫描电镜（FESEM）是一种电子显微镜，具有超高分辨率，可以用于观察各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象，还可以进行图像处理。
FESEM具有以下优势：
1、表面形貌观察：FESEM可以提供高分辨率的表面形貌观察，使科学家能够详细地研究材料的表面结构和形貌，包括材料的颗粒大小、形状、表面缺陷等。这对于研究材料的性能、制备工艺和下游应用等都非常有帮助。
2、成分分析：FESEM的二次电子成像原理不仅可以提供高分辨率的表面形貌图像，还可以提供元素分布信息。这使得科学家能够对材料的成分进行分析，进而研究材料中不同元素之间的相互作用和分布。
3、微观结构分析：FESEM可以提供高分辨率的图像，使科学家能够观察材料的微观结构，包括材料的晶体结构、相组成、织构等。这对于材料性能的研究以及新型材料的设计和开发都非常有帮助。
4、快速实时成像：FESEM可以快速地对材料表面进行扫描和成像，而且可以实时地观察材料的制备或加工过程。这使得科学家能够快速地评估材料的性能和工艺参数，进而优化材料的制备或加工工艺。
5、与其他技术结合使用：FESEM可以与其他技术结合使用，如X射线衍射、能谱仪等。这使得科学家能够对材料进行更全面的分析，从而获得更深入的认识和理解。
FESEM可应用于金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料、陶瓷、复合材料、塑料、薄膜/涂层、地质样品断面、矿物、软材料等多个领域。
